根据要求，薄膜传感器可用于不同波长范围的变型，从而为不同材料和薄膜厚度提供佳测量条件。对于小型结构，横向分辨率可以增加到5μm。干涉传感器的反射光谱评估是通过我们的薄膜厚度家开发的功大的软件进行的：根据和层系统，通过（速）和进行评估基于材料或两种方法的组合使用。这允许分析常薄的在米范围内具有高分和速测量结果。具有率和种材料的吸收系数的广数据库，例如玻璃，半导体，氧化物，塑料等，包括在交付范围内。

结合我们的测量系统，不电晕处理机用于生成点测量，还可用于生成具有高横向分辨率的剖面和映射。该传感器还常适合集成在线控制。此外，该传感器还可用于分析多达十层的多层系统。也可以对涂覆在两侧的透明基板进行建模。还可以表征层系统位于较厚材料之间的组件，例如在一侧用玻璃封装并在另一侧具有金属电的。

用于种流延薄膜基材的预处理。使用高频和高压电力在电之间产生电晕放电并产生低温等离子体我高了基材的附着力以及涂层量电晕处理增加了塑料薄膜，箔和纸的表面能，以改油墨，涂的润湿和性。当在挤出时处理基材并在转化之前在线处理时，处果佳。电晕处理通过提印刷质量，高印刷速度和减少废料来提质量和生产率。